[分享]TAKAYA与SEICA产品比较表 [复制链接]

TAKAYA APT-7400CN    SEICA   S40FP
测试速度    0.03~0.05 S/Step    0.06S/Step
XY位移分辨率    ±2.5um    ±5um
板下测针数    最大64支    最大 32支
最多测试隔离点数    4    2
测针最小接触尺寸    0.15mm    0.18mm(建议0.5mm)以上
元件最高板上高度    40mm    20mm
微电阻测试    四端法测试、准确    两端法测试、误差大
电容测试    准确稳定、量程范围大    小电容测试稳定性差
电感测试    准确稳定、量程范围大    小电容测试稳定性差
中文软件    可    不可
最大测步    300,000    32,000
基准面    上表面、无需校正    下表面、需要校正
被测点最小间距    0.18mm    0.20mm
编程方法    简便    复杂
下针速度    可调整    不可
下针深度    1mm调整，不影响测试速度    2mm调整，影响测试时间
弯板补偿功能    自动补偿    无
CCD功能    自动位置偏移补偿    无
部位偏移补偿    有    无
下针位置    方便、可自动校正    手动校正、需专用工具校正
机械系统    交换伺服马达、噪声小、定位准精确    直流线性马达、振动大移动速度慢、定位稍差
气源要求    不用    使用

"此外，Takaya的AOI功能能够将元件的有无、角度、极性、方向、错件、缺件、文字等等诸多内容进行判定，从而可以将一些电性能测试无法完成的内容，进行完善，大大提高了测试的覆盖率
Takaya的中文界面具有较强的亲和力,使得人机对话更方便、更容易。"