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Agilent3070 测试memory(DDR3)问题
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[Agilent-安捷伦]
Agilent3070 测试memory(DDR3)问题
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chenxuejun
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楼主
发表于: 2008-10-06
我们公司是生产显示卡的,显示卡上有很多memory(BGA封装)(DDR3),本来我们是使用Testjet测试memory,但是可测率只有15%左右,现在老板要我想办法提高可测率,请教各位大哥,有没有其他的方法可以测试memory提高其可测率
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zfx
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发表于: 2008-10-07
数字测试啊,用testjet 当然不行了.连Vetp 技术也不行的.
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chcc44
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发表于: 2008-10-07
我這樣覺得
使用 boundary scan test 應該可以的
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zfx
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板凳
发表于: 2008-10-08
不是所有的数字芯片都可以用boundary scan test,它必须要符合boundary scan test 的条件,很多数字芯片开发商根本就没有考虑到测试时要用boundary scan.所以说要看它的datasheet.
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vincent_he
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发表于: 2008-10-11
我们的项目有DDR用BOUNDARY SCAN的测试,开始只用TESTJET,后来加了BOUNDARY SCAN测试
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jevis_lin
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地板
发表于: 2008-11-07
DDR3可以用Digital test,这个是经常使用的测试方法!
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