[Agilent-安捷伦]電解電容的測試原理 [复制链接]

電解電容的測試原理

電解電容的測試原理2

verifone,能不能帮忙讲解一下在ICT测试时，超出设定值（high,low）多少范围再放下去就比较危险？？比如电容low220uF,但实际测试时219uF，这个差距应该没问题，但是超出多少就不可以了呢？？
谢谢！！

还有，能否介绍一下现有常用的ICT的机器设备及其各自的性能优缺点？？
非常谢谢！！！！！

一般的设定是10%~20%，超过40%就不正常了
一般来说测试电容没有什么危险的，因为测试时间很短

不好意思，还有问题
例如：电容normal 220uF,如果设定偏差为10%，那么high为：242uF,low为：198uF??对不对？

差不多，因为电容测试本来就不是很准确的

那再帮忙讲解一下泰瑞得和hp3070各自的优缺点，好不？？谢谢大锅啦

不好意思了，这两种机器我不是很熟悉，我只了解GenRad，很对不起了
不过我可以提供一些关于这两种机器的资料给你看看
如果有兴趣的话，发邮件给我

不好意思，我说两句。电容测试的上下限以具体状况而定。
1.器件的一般特性是变动的，如100Ω电阻的测试范围（90，110），甚至更大，应以器件特性为准。
2.PCB一般具有线电容，线电阻等，虽然很小，但对小电阻，小电容影响就大啦。
3.要考虑线路设计，比如器件并联，串联，这时问题就比较多，视测试值的变动为基准设定上下限。
4.判断危险最好的方法是做实验（DOE),区别良与不良，拿数据来证明。


没时间做实验只好用一般的经验啦

器件类型           +L       -L
R             30      30
R//Z             30      30       注意这个规定较宽松，考虑了假性不
R.HS             30      30       良，线电容电阻等因素
C(<100PF)             50      50
C(>100PF)             30      30
C//R             30      30
C.DC             30      30
L             30      30
L//R             30      30
D             20      20
J             10      10
FUNC             20      20
PNP             30      30
NPN             30      30

基本上可以這樣設置﹐不過你的電阻的范圍設置的似乎太大了﹐一般也就是20%左右﹐PNP﹐NPN的設置也不應該超過30%,常見的設置是20%.
當然﹐主要還是看他們在電路中起什么作用了﹐在什么位置﹐這樣設定才有意義。

两位大锅说的极是！
就是还有几个小问题想请教一下：
1）“guard”在测试中应该理解为什么意思？？比如：digital guard?
2）“wait time”是根据什么来设定的？它是否可以理解为“testing time”?
3）“swap poles”应该怎么理解？
谢谢，谢谢......

PLCC你是搞测试的吗？
1）“guard”在测试中应该理解为什么意思？？比如：digital guard?
答：GUARD是保护的意思，通常用在多个器件串并联的电路回路中。比如三个电阻首位相接，有三个测试点，每一个测试点放一个探针分别是A,B,C;当测试其中一个电阻时，需用到A,B而GUARD设定为C。实际上是在C针上加一个与A针相等的电势，保证电势只从A流向B这样A,B之间的测试值只是这一个电阻的值，而不是电阻的并联值。记住电势是从高电势流向低电势。例子毕竟是例子，要活学活用。
2）“wait time”是根据什么来设定的？它是否可以理解为“testing time”?
答：wait time是等待测试时间，一般用在有源器件（C,L,R.HS,C.DC等）。因为有源器件需要充分的充放电，测试特性才稳定。在测试是，先设定适量的WAIT TIME使器件充分的充放电，然后测试。当然理解为testing time也可以。
3）“swap poles”应该怎么理解？
答：swap poles是交换极性的意思，用在极性器件。实际上是交换电势的正负极性(A+,B- → A-,B+)。

樓上的﹐我們不應該這樣說別人﹐如果他是剛開始接觸這一行﹐確

[QUOTE]最初由 verifone 发表
[B]樓上的﹐我們不應該這樣說別人﹐如果他是剛開始接觸這一行﹐確