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abble:查下芯片sheetdate 再对比炉温 有没有超过最高耐热温度 (2018-10-12 15:25)
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copper_hou: 另外需要确认贴片过程的ESD失效风险,之前有过CPU IC在贴片后也是测不到ID的,失效分析是IC内部发生了ESD损坏。 可以查到这个IC的原厂Part number,查找其datasheet,看其中的ESD耐压值,看CDM电压是否比较低,比如<125 V? (2018-10-12 16:13)
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hyk6504:那就来料问题 (2018-10-12 16:45)
copper_hou:这种论断欠合理性。 当今IC的ESD失效防护早已不是全部放在IC的内在ESD保护设计,就可以解决IC-SMT-组装生产制造阶段的ESD失效损失的。(2010年前这种做法还有一定的适用性) 以ESDA、JEDEC等为代表的ESD专业性组织已经给出了很好的指导方针:1.IC ESD保 .. (2018-10-12 19:15)
abble:兄弟 内行啊 主要搞什么的 (2018-10-13 08:37)
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copper_hou:各有所专吧。我是专做电子生产制造过程中的ESD/EOS防护与不良损失解决的,SMT装配自然也是涉及的领域之一。有这方面的话题,大家可以优势资源互补共进。我的微信:copper_hou (2018-10-13 08:52)
mjcxiaocai:这个我强项啊 我经常搞这种 1CE 2CE 4CE 的BGA 我这边全是这样的 。你生产之前烘烤是必须的 还有就是你们芯片有全测试 过后在贴片吗? 我们这边是全部测试OK在贴片、 生产出来的不良就好分析了,要么是没有贴好 要么是芯片过炉坏 .. (2018-10-12 18:03)
jaya:我下载了datasheet,里面只有Solder ball material:SAC302(96.8% Sn,3% Ag,0.2% Cu),没有相关ESD的要求! (2018-10-15 09:49)
jaya:您好,你那边有贴786Gb的2CE的spetik的芯片不,我这边都是先烘烤8小时,然后单芯片上线测试挑选,良品再贴片,坏的拆下来测试只有一个CE了,我没贴片直接把芯片过炉了100片,测试有一片掉CE。 (2018-10-15 09:54)