[ViTrox]针对BGA HIP测试的处理方法 [复制链接]

        分享给大家一些BGA HIP测试的方法，希望可以解决更多工厂和工程师解决实际问题
        在电子产品中，BGA是正常且广泛使用的元件，自从BGA元件被转换成无铅合金后，HIP缺陷变得更加普遍。由于HIP缺陷在ICT测试和功能测试中通常不会失效，只能依靠AXI、X射线、CT扫描等来发现HIP缺陷。2DX射线和CT扫描可以非常直观地反映HIP缺陷，但检测速度慢、效率低，而AXI测试可以快速高效的检测HIP缺陷，是唯一可以使用的有效的方法。ViTrox V810 AXI 针对BGA HIP缺陷有单独的检测算法，有很好的HIP缺陷检出能力。
附件下载： ViTrox V810 AXI 针对BGA HIP的测试.pdf (620 K) 下载次数:20

不错的内容，很详细能够了解到一些东西！.

zlj1997:不错的内容，很详细能够了解到一些东西！. (2020-03-02 22:30) 

希望对您有用

感谢楼主分享，学习学习，赚点金币再下载

正需要了解这方面的资料，谢谢楼主分享

还差一分才够下载

V810 根本不好测,除了欧姆龙能测的准其他家设备都不行

BGA的HIP检测很好