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CPK 计算公式表
1，在PCB测试板上取六个测试点，用同一个KIC，每个点连续测试25次，取峰值温度计算。

2，依据公式：Ca=(ˉx-U)/(T/2)， 计算出制程准确度：Ca值    ˉx = (x1+x2+...+xn) / n : 平均值
U = (USL + LSL) / 2：规格中心
3，依据公式：Cp =(USL-LSL) / 6σ=T/6σ 计算出制程精密度：Cp T = USL - LSL : 规格公差
USL (Upper specification limit): 规格上限
4，依据公式：CPK=Cp*（1-|Ca|） ， 计算出制程能力指数：Cpk值    LSL (Low specification limit): 规格下限
σ 标准差


 5，Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）

A++ 级    Cpk≧2.0       特 优          可 考 虑 成 本 的 降 低A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≧ 1.67 优 应 当 保 持 之
A 级 1.67 ＞ Cpk ≧ 1.33 良 能力良好，状态稳定， 但应尽力提升为A＋级

B 级 1.33 ＞ Cpk ≧ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法
将其提升为A级

C 级 1.0 ＞ Cpk ≧ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力。

D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。


6，用测试出的六组数据，用专用软件计算CPK值，新机CPK≥1.67为合格。