CPK 计算公式表
1,在PCB测试板上取六个测试点,用同一个KIC,每个点连续测试25次,取峰值温度计算。
2,依据公式:Ca=(ˉx-U)/(T/2), 计算出制程准确度:Ca值 ˉx = (x1+x2+...+xn) / n : 平均值
U = (USL + LSL) / 2:规格中心
3,依据公式:Cp =(USL-LSL) / 6σ=T/6σ 计算出制程精密度:Cp T = USL - LSL : 规格公差
USL (Upper specification limit): 规格上限
4,依据公式:CPK=Cp*(1-|Ca|) , 计算出制程能力指数:Cpk值 LSL (Low specification limit): 规格下限
σ 标准差
5,Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)
A++ 级 Cpk≧2.0 特 优 可 考 虑 成 本 的 降 低A+ 级 2.0 > Cpk ≧ 1.67 优 应 当 保 持 之
A 级 1.67 > Cpk ≧ 1.33 良 能力良好,状态稳定, 但应尽力提升为A+级
B 级 1.33 > Cpk ≧ 1.0 一般 状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法
将其提升为A级
C 级 1.0 > Cpk ≧ 0.67 差 制程不良较多,必须提升其能力。
D 级 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差,应考虑重新整改设计制程。
6,用测试出的六组数据,用专用软件计算CPK值,新机CPK≥1.67为合格。