开发、运行和重新配置的环境，是建立测试方法的关键。
为了降低密集电路板的制造成本，边界扫描变得不可缺少。为实行边界扫描，先要用相应的软件设计出可用于边界扫描的电路板，并开发出实验室和制造设备用来测试电路板的测试向量。
边界扫描软件在开发、制造运行测试、和现场应用中都可发挥作用。作为基本的边界扫描软件的补充，一些工具软件则可以提供诸如简图查看或分析测试覆盖率的功能。
边界扫描的目标是给被测试产品提供一个输入向量，测试用的输入／输出线应该最少，理想情况是IEEE 1149.1 标准定义的四条线 (时钟、数据入、数据出、和测试模态选定)。此技术也评估对应的输出向量，多种硬件能生成并且获取那些信号，比如独立的边界扫描控制器或在线的测试仪，而软件将决定这些信号的取值。
边界扫描设计流程
典型的边界扫描设计，需要预先列出一个器件表，包含适应边界扫描的和不适应边界扫描的的两类器件。适应边界扫描的器件带有边界扫描描述语言 (BSDL)文件，它描述了这些器件对应于边界扫描测试端口输入和输出信号的行为。这些文件，连同来自电路板的EDA工具的概要数据，成为边界扫描开发软件工具的输入。常用的边界扫描开发软件工具包括Acculogic公司的ScanManager、Asset InterTech 的ScanWorks、Corelis的ScanPlusTPG、Goepel Electronic的System Cascon、Intellitech的Eclipse Test Development Environment，以及Teradyne的Victory。
这些工具可用于开发测试边界扫描器件和配置系统内可编程器件所必需的测试向量。除此之外，他们能为不适应边界扫描的器件群提出测试策略，决定差错覆盖率，而且提出应增加的测试点，以便用最小的成本扩大差错覆盖率。
德国Goepel Electronic公司副总裁 Thomas Wenzel说，在选择边界扫描工具的时候，客户通常首先评估软件，只有在应用中需要高速度编程才首先考虑硬件。他推荐用一个完全集成的边界扫描开发环境 (包括有插槽的机箱结构) 来代替多个单项工具的组合，例如该公司的System Cascon。
Asset InterTech的技术市场经理，David Bonnett强调，对已有购买计划的客户而言，应当让他们超越眼前需要: “第一次或无经验的用户，通常非常注重于边界扫描系统的某一个方面。他们对价钱很敏感，而且想要知道，此系统能否解决他们现在正遇到的特定问题。”
Bonnett 接着说，有经验的用户则更关心的是所考虑的边界扫描系统有多宽的使用范围，它是否能有效地与其他的过程和程序整合。比较成熟的用户通常更想了解，边界扫描系统产生的测试和编程操作，可以如何支持原型调试，如何与在线测试、功能测试、内置自检(BIST) 和其他的类型测试方法一起工作。Bonnett说，" ScanWorks的强项之一，是它能做到测试的重复使用。"这个特点从设计和开发的测试，延伸到制造过程、环境测试和其他类型的测试。
Corelis 的董事长Menachem Blasberg赞同一个有效的边界扫描系统应该和其他测试和开发工具很好地协调工作。和其它竞争者的软件一样， Corelis软件的好处就在于，你能在其它程序 － 例如LabView，Agilent Vee和定制的测试代码 － 中调用并运行边界扫描测试。这能方便某些客户的测试，譬如，有些客户决定放弃LabView 中开发的与功能测试相联结的在线测试，而利用边界扫描。
从DC测试到ISP
IEEE 1149.1本来被构思为低速或DC互连的测试标准，现在又产生了新的标准，那些新标准定义了线路板上闪存的编程。除此之外，这些标准之一IEEE 1582，还定义了ISP的现场可编程门阵列 (FPGA)和可编程逻辑器件(PLD) 的配置或现场重配置。
从产品开发到现场应用，边界扫描软件的范围在价格和性能上都很广泛。 从低于$1000美元，只提供低速 IEEE 1149.1 测试的版本，直到价格为$50000，能按IEEE 1582和其他的规格，提供直流测试、交流测试和闪存编程和可编程器件配置的版本。后者通常带有线路图观测器(图 1)和测试覆盖分析等功能。
Corelis的 ScanPlusDFT是一个典型的高端软件包。按照 Blasberg的说法，它能评估包括边界扫描和非边界扫描器件混合的线路板和系统。ScanPlusDFT 报告线路板上包括每个网点和引脚的测试覆盖率，指出所有网点和引脚中，哪些是完全可测、部份可测、或是不可测的。它可以指出在哪里增加测试点能提高可测性，同时又可减少在线测试的固定设备中所需要的测针。另外一个特点是 ，Corelis对半导体器件中嵌入核的测试支持，因此为Corelis获得了 "LogicVision Ready" 地位。 这意味着 Corelis的测试工具支持具有LogicVision嵌入式测试IP的IC的测试。
测试有效性
JTAG Technologies的美国市场经理 Ray Dellecker 指出，如果他必须选择一个对边界扫描的整体有效性具有主要影响的方面，那将是测试开发软件的质量和能力。他又说，软件能提供高度的自动化，但是软件的测试生成器一定要能做彻底的和可靠的工作，评估所有的可能网点和情况。 Dellecker说： "我们的软件工具在按钮操作和设计意图的确认之间达成了平衡。其他的因素，例如线路板设计、BSDL的质量以及与EDA 系统的链接等，现在正变得更加容易办到，因为这方面已经成熟。"
Corelis's Blasberg 指出，低质量 BSDL 文件曾经是限制边界扫描有效性的主要因素，但是他也同意在过去几年内 BSDL问题已经大幅度减少。 Flynn Systems的销售和市场经理 Matt Van Wagner，把BSDL 的进步部份归功于 Agilent Technologie的 Kenneth Parker，他帮助建立了一个免费的基于网络的BSDL 语法自动化检验器(
www.ate.agilent.com/emt/library/smart_tools/varification)。
BSDL 文件方面的进步，使得边界扫描应用的全部有效性由其他的因素决定。 Goepel Electronic的Wenzel列举的因素包括：选定的边界扫描系统的性能、以及开发可利用边界扫描的电路板及其测试程序的工程师的技术水平。Asset InterTech的Bonnett 表示同意: "边界扫描测试的有效性的主要决定因素是，开发群体进行可测试性设计(DFT)的质量。非常不幸，没有一种边界扫描软件系统能克服 DFT的过程中带来的不足。"
Intellitech 的销售和市场经理Tom Jackson强调: "市场中有一个产生于供应商自身的误解，那就是 IEEE 1149.1 工具并不复杂，因而不需要技术专家就能评估。这不是事实，DFT 是一个全局设计的问题，因而一定要作为全局问题来对待。今天，DFT的意义比1149.1链中的菊花链式集成电路重要得多。"
Jackson接着指出，为此目的，Intellitech把系统内各部分IP的基础结构提供给系统设计者，以便帮助他们用有效的策略，来实现嵌入的配置和测试。公司的专利权待定的IP"提供可伸缩的配置、查错和测试基础设施，使客户能够建立可自测试的和能在现场重新配置的产品"。公司的产品包括：SystemBIST IP，它是一个即插即用IP组件，使符合 IEEE 1532的系统内结构和符合 IEEE 1149.1的测试能够工作；FAC IP是一个能以最大的速度对在系统内的闪存进行编程的 IP组件；扫描环联接器IP把多个扫描环(二次扫描路径) 联编到一个单一的高速度测试总线上，它允许二次扫描链上的器件，经过单个 IEEE 1149.1的外部接口，被独立的测试和配置。
Asset InterTech的Bonnett说，"每个边界扫描工具厂商都有独特的测试生成工具，它们应用该厂商特有的方法来测试并诊断其结果。" 他说，在一个厂商的平台上开发的向量，可以采用工业标准的串行向量格式 (SVF) 文件，传送到另外的一个厂商的平台上，但是在那个平台上的诊断通常仅限于合格/不合格。 除了 SVF 标准之外，Asset的部件还追求与其它不同系统实现无缝集成，如Agilent Technologies的 3070 在线测试系统，以及Teradyne 的Victory边界扫描软件。 Goepel 的Wenzel指出，像Jam STAPL等的PLD 格式可以作为SVF补充，进行不同的平台之间有效的边界扫描数据的传送。
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