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2007-05-29 11:22 |
我是一个新手,在SMT上看到大家好多好的资料,非常感谢大家.同时也很想为大家做一点贡献,一直以来都是分享大家的资料,心里很过意不去.下面是我做的P管制图,我还有一些文档,不知怎样才能放到网上与大家分享.
文件名称 P-管制图制作与分析指导书
一、目的：
统计制程中的不良品数，找出不良品率变化的趋势，对生产工序间的产品质量进行控制，以达到持续改进和确保产品品质之目的。其最终目的是使得由于被据收或其他原因而导致的制程成本至最低。
二、定义：
①不良品：制程中超越允差范围的产品，即不合格品；
②不良品率（非允收品率）：某批量不良品数与该批量产品总数的比值。
③UCL(UPPER CONTROL LEVEL)：管制上限
LCL(LOWER CONTROL LEVEL)：管制下限
三、范围：
P－管制图适用于本厂冲压、热处理、磨板、点焊、喷砂、磨齿、包装等各工段，所涉及之相关部门人员都应积极配合推行，以取得良好绩效。
四、求算过程：
（一）、每次抽取等同的样本数
假设抽取k组样本，每组样本数为n，yi代表第i组样本中不良品数。则不良品率为yi/n，以pi表示第i组样本的不良率，则整体k组样本的平均不良率为：
p=（p1+p2+…+pk）/k
计算标准差的估计值
s=√[p（1－p）]/n
计算管制界限
管制上限：UCL=p+3s
管制下限：LCL=p-3s
注：若LCL小于0，则以0代替之。
（二）、变动的样本数
通常在固定抽样时间区间里对于制程产出执行100%的检验，然而在每个抽样区间内所产生的数目也可能不同，在这种情况下，P管制图将有变动的样本数。
假设抽样区间为k组， ni代表第i组抽样区间的数目，yi代表第i组抽样区间中不良品数。则不良品率为yi/n，以pi表示第i组抽样区间的不良率。
则总不良率平均数为：
p=（∑yi）/（∑ni）=(y1+y2+…+yi)/( n1+n2+…+ni)
接下来有两种计算方法:
方法一:分别计算标准差
Si=√p(1-p)/ni
计算管制界限
管制上限：UCLi=p+3si
管制下限：LCLi=p-3si
注：若LCLi小于0，则以0代替之。
方法二:使用平均样本数（n）
n=（∑ni）/k
计算标准差
S=√p(1-p)/n
计算管制界限
管制上限：UCL=p+3s
管制下限：LCL=p-3s
注：若LCL小于0，则以0代替之。
一般来说,当个别样本数落于平均样本数25%的范围内才可使用这个方法，即要求
0.75n<ni<1.25n
五、P－管制图的绘制
1、根据厂部要求，于P-chart上划出目标线；
2、根据第四项之计算结果，于P-chart上划出中心线（P）、管制上限（UCL）、管制下限（LUL）；
注：在P－管制图中，上、下界限用红色虚线表示；
中心线用黑色实线表示；
目标线用蓝色实线表示。
当月之管制线是由上月之统计数据求出，每日不必另求控制之上下限。
3、将各时间间隔（或各组样本）的管制点（P点）绘出，然后连线。
六、结果分析
1、当P¬-管制图上的点全落在上、下管制界限范围内时，可认为基本处于管制状态，表明生产工序的品质特性较为稳定。
2、当P-管制图上的点超出管制上限时，班组长应调查不良原因，应及时向有关人员反馈，并采取有效措施予以改善。如班组长暂时不能解决，则立即向主管及工程师报告，制造工程师应立即分析不良情形，追查异常原因，采取处理措施，防止再发生，确保制程处于受控状态，由现场生产主管追踪落实改善。
3、某一个样本点低于管制下限或低于中心线趋势的发展，都表示制程获得改善，因为理想的状况是零瑕疵。在下此结论时应小心谨慎，因为也许是计算时发生错误所致。 |
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