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相对AOI，ICT测试有没有过时？？
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xaiff214
2008-07-22 15:23
相对AOI，ICT测试有很多人说过时？我不这么认为。请大家指点一二
？？！！
pcbaflex
2008-07-22 20:55
感觉AOI是不可能取代ICT的,相反飞针可能会取代ICT.
wjs8848
2008-07-22 21:41
AOI、ICT、XRAY三者各有侧重，各有千秋，相辅相成。
飞针测试只是ICT的延伸，测试效率和应用范围有待考量。
niunai
2008-07-22 21:58
飞针测试太花时间了，NPI的时候可以，量产的时候还得用ICT
xl155380693
2008-07-23 17:23
这应该是我在这个论坛上发的第一个帖子吧，
xl155380693
2008-07-23 17:24
QUOTE:
原帖由2楼楼主
wjs8848
于2008-07-22 21:41发表
AOI、ICT、XRAY三者各有侧重，各有千秋，相辅相成。
飞针测试只是ICT的延伸，测试效率和应用范围有待考量。
chenzhe
2008-07-24 17:17
电性能测试不可能被光学测试取代
你以为为什么很多人用AOI? 那是因为没办法.
如果让一些客户选择测试设备,在可能的情况下,总是优先考虑电性能测试的,如ICT,飞针.
timeic
2008-07-24 21:43
这两者侧重点不一样，要想达到比较好的测试覆盖率，需要2者结合使用。
AOI对电气特性无法测试的，所以如果零件本身质量管控不好，ICT可发挥很大作用。
再者，目前BGA等无外引脚设计的零件逐渐增多，AOI更显得捉襟见肘，需要ICT，或者ATE。
如LS说说，AOI是ICT的部分补充，不可能取代。
gutianle88
2008-07-30 13:03
目前还是取代不了吧 以后就不知道了
xl155380693
2008-08-01 11:59
靠，你是不知道有多少小厂，
什么检测设备都没有，，，
靠什么检查，全部是小妹妹们的眼睛啊。
ytyc520
2008-08-01 12:48
AOI、ICT、XRAY三者各有侧重，各有千秋，相辅相成。
飞针测试只是ICT的延伸，测试效率和应用范围有待考量。
smtstar
2008-08-02 17:40
检查方向都不同,咋能说取代就取代.
合钜泰
2008-08-02 18:49
我认为ICT还不不可能被取代的
yuyicumt
2008-08-14 14:26
2个完全不同的概念,一个是光学检测外观的,一个是测电性的,怎么能扯到一起?
xuzhan
2008-08-14 19:30
神眼阿，以后买主板可以借用一下了。
houyang76
2008-08-18 12:07
两个不同的检测方法与技术，不能这样比较吧。
一个是外观，一个则是电性；所以不能一起比较。
uucc2009
2008-08-18 13:55
楼上兄弟说的的确是,有的厂没有检测设备呢,靠眼睛
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