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QUOTE: 原帖由1楼楼主 eagle9135 于2008-08-25 16:34发表  ATE测试整个产品的功能,ICT是测试单个元件,大致理解是这样吧。 ATE测试并不能测试产品的全部功能,严格意义上来讲,它与ICT一样也属于白盒测试,区别在于,一个加入Power测试,在测试内容方面,它也是以IC为单位的,也就是说它的测试对象也是单颗的IC,所以测试IC的时候,需要Disable上游IC,Clock,消除IC之间的干扰。它的测试目的也主要是制程的不良,像XOR Tree,Boundary Scan,Memory,Flash,等等,当然也可以附带部份功能,这个需user特别指定。 |