[求助]ＡＴＥ与ICT的区别？ [复制链接]

请问各位高手，ATE与ICT的区别在哪里呀？谢谢呀！

ATE测试整个产品的功能，ICT是测试单个元件，大致理解是这样吧。

原帖由1楼楼主 eagle9135 于2008-08-25 16:34发表
ATE测试整个产品的功能，ICT是测试单个元件，大致理解是这样吧。

ATE测试并不能测试产品的全部功能，严格意义上来讲，它与ICT一样也属于白盒测试，区别在于，一个加入Power测试，在测试内容方面，它也是以IC为单位的，也就是说它的测试对象也是单颗的IC，所以测试IC的时候，需要Disable上游IC，Clock,消除IC之间的干扰。它的测试目的也主要是制程的不良，像XOR Tree,Boundary Scan,Memory,Flash,等等，当然也可以附带部份功能，这个需user特别指定。

补充：我说的是过去的主要测试思想，不过随着测试技术的发展，目前引入很多先进的测试技术，如Boundary Scan Chain Test(Virtual Nail Test,Interconnect Test,etc)。

明白了不少，谢谢各位高手！

ICT(又叫MDA) 最早是日本人发明的,其目的是为了检测出PCBA在SMT生产上的不良.
ATE 最早是美国人发明的,其目的是在检测PCABA生产工艺的前提下,又能进行一部分的功能,数字电路测试.

两种类型的设备也分别体现了两国的不同生产思路.美国人喜欢讲一体化,希望能够在一台机器上做N台机器做的事.从而简化生产步骤.
日本人喜欢细化分工,他们认为ICT就应该是测量SMT生产工艺的, 如果有需要测数字和功能测量,可以交由后期更专业的功能测量设备来进行,从而提高整体的生产效率.

ATE英文名 automatic test equement,即自动测试设备，其实有很多的设备都属于这一类，这类设备能做的大部分工作包含了ICT的内容，但也不尽然
ICT - in circuit test 在线测试，仅仅测试生产线上的工艺，但其实现在的ICT设备，基本与ATE等同了。
唯一区别我认为ICT更狭窄一些，目前这两款设备的趋势是合二为一进而往AFCT 自动功能测试发展

ICT-In Circuit Test直译为在线测试 ATE-Automatic Test Equipment直译为自动测试设备 MDA-Manufacturing Defects Analyzers直译为生产故障分析器 原本世界是很简单的，GenRad和HP先后推出了ICT。那个时代ATE和MDA这两个名字都还有诞生。 后来日本和台湾厂商推出了类似ICT的设备。但是实在是差的太远，只能做一些简单的电阻电容测试。在价格上也是差了几十倍。所以不配ICT这个名字。所以，MDA这个名字诞生了。 在后来，HP推出了Testjet并授权给了其它厂商。日本和台湾厂商的MDA设备有了Testjet后可以测IC了。为了推广他们的新产品，他们宣布有Testjet的新一代MDA都可以称为ICT。 但是测试行业的客户们显然不是农民，这种挂羊头卖狗肉的行为也没有收到预期的效果。既然MDA变成了ICT。那么，ICT就有了个新名字-ATE。