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[求助]via in pad 测试点不良,请大家帮忙分析下 [复制链接]

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离线huhanshuang
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2006-08-03
只看楼主 倒序阅读 使用道具 楼主  发表于: 2010-05-31
PCB 上测试点是 pad中带盲孔,在ICT发现测试不良,看测试点有的是焊点上有小孔,有的是盲孔中根本没锡膏,还有可以看到有本来应该是测试点的锡膏变锡球在旁边!板子上没其它异常!
怀疑是不是板子 via 孔里的油墨有问题?没有完全烘干?
明天准备把板子放烤箱里烘烤下,看看是否还有此不良!
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离线huhanshuang
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2006-08-03
只看该作者 沙发  发表于: 2010-05-31
还有个问题想请教下,之前有发现测试点下陷的现象,导致ICT测试不过!
PCB半塞孔內油墨飽滿度约在20%左右,钢网开孔1:1。
后来和pcb厂商联系,油墨饱满度改善到40%-50%,自己钢网开孔改成1:1.2。不良从60%减到5%。但还是有不良。
我老板从他朋友那边了解到,饱满度能控制在50%-70%左右,这个问题基本上可以克服。
PCB油墨的饱满度能不能改成50%-70%左右?问厂商貌似比较难。
想把钢网改成1:1.5,不知道行不行?
离线arlene2009
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2009-08-15
只看该作者 藤椅  发表于: 2010-06-01
PAD中lay via hole根本就是违反了 DFM rule
离线阿云
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2006-03-08
只看该作者 板凳  发表于: 2010-06-02
引用第2楼arlene2009于2010-06-01 22:39发表的  :
PAD中lay via hole根本就是违反了 DFM rule

这种属于测试孔,是将普通VIA孔的焊环加宽,以作为测试点用,与DFM相关规则并不冲突。
楼主可以关注一下是否可以将VIA孔孔径改小,如更改为10mil,另外应查看下PCB文件,看看此位置过孔是否做了阻焊处理,正确的应该需要做阻焊开窗。