UID:743943
描述:Via孔上的焊點開裂
图片:2.JPG
描述:旁邊的錫球有完好
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a991016118:楼主说 锡球于BGA面开裂(是BGA裂还是焊接裂)那么能引起锡裂的因素就多了 , 这方面需要更多数据,本司有一次BGA枕窝效应,基本每个制程都优化了…… (2017-04-20 21:51)
panda-liu:看上去球形如梨(不正常),不知道合金液化时间、峰值温度实际多少、冷却速率又如何控制的...,呵呵。 (2017-04-20 18:40)
shandong:芯片有无烘烤,芯片开裂和芯片变形有关。 (2017-04-21 10:32)
黄埔三哥:可以多看看IPC7095.。。。 (2017-04-21 10:11)
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youngjune:BGA四角焊点正常,可以排除机械应力原因造成的焊点开裂。需要看看热应力方面是否有异常。有VIA孔的焊盘比较容易导热,回流焊之后是否有波峰焊?VIA背面焊盘是否有接触到波峰焊液面高温?焊点外形不规则、有个焊点BGA侧的开裂处光滑,有开裂焊点受高温后软化、缩口的嫌疑。焊点开 .. (2017-04-25 21:48)