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引用第24楼cobola于2006-03-07 10:01发表的“”:关于BGA裂缝,象楼主这样的拍摄图片是不能说明问题的.因为你说到测试不良,有可能是在BGA 上下PAD 面就已经CRACK了,尤其是元件处的CRACK基本是不可修复的FAILURE.而引起这种缺陷的不单是PROFILE,MOISTURE的问题,很可能是应力,治具测试,或者来料本身不良.一般国外客户会要求染红测试,切片分析,甚至STRAIN GAGE,SAM等测试.
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引用第27楼hyena于2006-03-07 22:29发表的“”:染红试验就是dye & pry ,用类似指甲油的液体浸泡失效器件,同时抽真空,然后烘烤后起拔,这样断裂的焊点会染上颜色, 从而发现断裂的位置。对你这种情况,我们一般是先观察侧面,然后进行dye & pry 和切片分析, 再用SEM和EDX分析断口处的成分等。不过你的两个图我看不太清楚,如果一个是在器件侧断裂,一个是在PCB侧断裂,则有可能是由外界应力引起,如果都在器件侧,又是在IMC处断裂,则多半是来料问题,查一下你的器件substrat是不是ENIG吧!